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        單次衰減全反射附件

        產品簡介

        ATR單次衰減全反射附件基于光內反射原理而設計。從光源發(fā)出的紅外光經過折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上,當入射角大于臨界角時,入射光線就會產生全反射。

        產品型號:ATR
        更新時間:2025-02-20
        廠商性質:生產廠家
        訪問量:2038
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        品牌嘉鑫海貨號00000
        供貨周期現(xiàn)貨應用領域環(huán)保,食品/農產品,化工,農林牧漁,制藥/生物制藥

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        ATR單次衰減全反射附件基于光內反射原理而設計。從光源發(fā)出的紅外光經過折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上,當入射角大于臨界角時,入射光線就會產生全反射。事實上紅外光并不是全部被反射回來,而是穿透到試樣表面內一定深度后再返回表面。在該過程中,試樣在入射光頻率區(qū)域內有選擇吸收,反射光強度發(fā)生減弱,產生與透射吸收相類似的譜圖,從而獲得樣品表層化學成份的結構信息。

        適用范圍:

        常規(guī)的透射光譜可用壓片或液體池法進行測量,但是對于某些特殊樣品,難熔、難溶及難粉碎的試樣(如塑料聚合物、橡膠等),透射光譜存在制樣困難的問題。衰減全反射(Attenuated Total Refraction,ATR)紅外附件可以解決這些問題。它具有制樣簡單、無破壞性、檢測靈敏度高、對樣品大小及含水量無特殊要求、測量區(qū)域小等特點。

        ATR單次衰減全反射附件操作步驟如下:

        1)將樣品直接放置于ATR附件的晶體和頂針之間,較平整的一面貼上ATR晶體上。

        2)擰緊手扭至旋空,,即可進行樣品測試。再經過傅立葉紅外變換紅外光譜儀測試,從而獲得樣品的光譜圖,再根據紅外圖譜的特征峰進行定性分析。

        注意事項:

        1. 樣品要柔軟平整, 也可用來測試常規(guī)液體和固體粉末樣品。

        2. 使樣品與ATR晶體的反射面嚴密接觸,提高接觸效率,是獲得高質量ATR譜圖。

        3. ZnSe晶體適用PH范圍:5-9

        4. 測試完成后,一定要用無水乙醇將ATR的壓頭及其他附件等都要擦拭干凈,并保持樣品倉清潔干凈。





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